Laboratório OES de espectro total Análise elementar Espectrômetro de emissão óptica GL-410
O espectrômetro GL-410 é um espectrômetro de emissão óptica (OES) de espectro total projetado para análise elementar multimatriz de alta precisão (por exemplo, Fe, Cu, Al, Zn) em uma ampla faixa de comprimento de onda de 140-750 nm.
Análise de materiais multifuncional : suporta análise de diversas matrizes, como Fe, Cu, Al, Zn, Ni, Sn, Ti e Mg, atendendo às necessidades de vários setores.
Design modular : apresenta módulos independentes de coleta óptica e processamento de dados, combinados com um processador ARM de alto desempenho e sistema operacional em tempo real, reduzindo significativamente o tempo de análise e aumentando ainda mais a precisão.
Sistema de controle preciso de temperatura : a flutuação de temperatura é limitada a ±0,2℃, garantindo estabilidade operacional e melhor eficiência energética.
Capacidade de análise de amplo espectro : a fonte de luz controlada digitalmente amplia o alcance da análise elementar, abrangendo elementos de traço, macro e ultra-alto conteúdo.
Design óptico eficiente : a grade plana reduz o número de CCDs, melhorando a precisão e a estabilidade, ao mesmo tempo que torna o dispositivo mais compacto e fácil de instalar e mover.
Sistema de caminho de gás otimizado : O novo design do caminho de gás inclui uma função de limpeza e um mecanismo de vedação para evitar vazamento de argônio, permitindo um reabastecimento rápido e reduzindo os custos operacionais.
Suporte de software inteligente : o software operacional multifuncional exibe dados elementares de forma flexível e suporta vários formatos de impressão para atender às necessidades personalizadas.
sistema óptico | estrutura | Czerny-Turner |
raio de curvatura | 400 mm | |
IV grade original holográfica com função de correção de aberração | 2400 linhas pautadas/mm | |
faixa de comprimento de onda | 140-750 nm | |
resolução de pixel | @200nm:19h | |
câmara óptica de vácuo com sistema auto termostático | 30±0,2℃ Faixa de vácuo: 1,2-2,5 Pa | |
sistema de fonte de luz | fonte de luz | controlado digitalmente pulso de faísca |
técnica de controle | PWM | |
corrente de descarga | 10-400A | |
frequência de excitação | 100-800Hz | |
duração da descarga | 10-10000μs | |
suporte de faísca | câmara de excitação com uso mínimo de argônio | |
base facilmente trocável (tampa) | ||
pino de fixação móvel | ||
sistema de coleta e controle de dados | Detector CCD de alta resolução | |
CCD linear: Toshiba | ||
conversão A/D de 16 bits de alta velocidade | ||
resolução: 3648 pixels | ||
controle em tempo real da temperatura e do estado do vácuo | ||
ethernet | ||
outros | matrizes | Fe, Cu, Al, Ni, Zn, Sn, Ti, Mg, etc. |
configuração de canal | múltiplas matrizes e canais | |
dimensões (mm) | 970*415*640 | |
exigência ambiental | Temperatura de 10℃-35℃ H20%-80% | |
peso | 130Kg (peso líquido), 180Kg (peso bruto) | |
V/F | CA220 V±10%/50 Hz | |
poder | máx. 800VA espera 100VA | |
argônio | pureza≥99,994% , pressione≥0,3MPa |